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    性能特点:

    DAGE X-ray 检查仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。


    产品详情

    DAGE X-ray 型号:XD7500VR

    产品参数:
    规格:XD7500VR
    尺寸(长x宽x高):1450 x 1700 x 1970mm
    重量:1900 KG
    最小聚集光点:0.95micron
    X光发射管:开放管
    X 射线管电压范围:30-160 KV
    最大检测面积:458MM x 407MM
    最大板尺寸: 508MM x 444MM
    最大样本重量:5 KG
    电源:单相 200-230V/16A
    斜角视图:0-70°(360°全方位检测)
    系统(几何)放大倍率:1200x
    辐射安全标准:1uSv/Hr(符合欧美标准)

    产品规格:
    最小分辨率:950纳米(0.95 微米);
    影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度;
    图像采集:1.3M万数字CCD;
    最大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm);
    最大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm);
    系统最大放大倍数: 至5650X;
    显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS);
    安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等